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簡要描述：溫度快溫變循環(huán)試驗機廣泛應(yīng)用于：芯片,，微電子器件，集成電路,、閃存Flash,、 傳感器、小型模塊組件光通訊,、航空航天新材料等性能分析,、高低溫溫變測試、失效分析等可靠性試驗,。
產(chǎn)物型號：LQ-KS3-512廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-04-04訪&蒼產(chǎn)蟬辮;&蒼產(chǎn)蟬辮;問&蒼產(chǎn)蟬辮;&蒼產(chǎn)蟬辮;量：2113產(chǎn)物分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 柳沁科技 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)物新舊 | 全新 | 產(chǎn)物大小 | 中型 |
| 控溫方式 | 水冷式 | 升溫速度 | 3℃/塵頸蒼 |
| 降溫速率 | 3℃/塵頸蒼 | 內(nèi)尺寸 | 800*800*800 |
| 溫度范圍 | -50詞＋150℃ | 溫變范圍 | -40詞＋80℃ |
溫度快溫變循環(huán)試驗機廣泛應(yīng)用于：芯片,，微電子器件，集成電路,、閃存Flash,、 傳感器,、小型模塊組件光通訊、航空航天新材料等性能分析,、高低溫溫變測試、失效分析等可靠性試驗,。
快速溫變試驗是用來確定產(chǎn)物在高溫,、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的存儲、運輸,、使用的適應(yīng)性,。試驗過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個循環(huán)，溫度循環(huán)試驗的嚴苛程度是以高(低溫度范圍,、停留時間以及循環(huán)數(shù)來決定,。
溫度快溫變循環(huán)試驗機的測試方法：
GB/T 10589- 2008低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592- 2008高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2- 1低溫試驗方法
GB/T 2423.2- 2008/IEC 60068- 2-2高溫試驗方法
GB/T 2423.3- 2008/IEC 60068- 2-78 恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.4- -2008/IEC 60068 2- 30交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.22- 2008/IEC 60068- 2- 14溫度變化速率試驗方法
GJB 150.3A- 2009高溫試驗方法
GJB 150.4A-2009低溫試驗方法
GJB 150.9A-2009濕熱試驗方法
GB/T 5170.2- 2008電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備
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