簡要描述:快速高低溫沖擊實驗箱,因為溫度可以隨時變化做試驗,,所以也能稱它為溫沖溫變箱,。此設(shè)備的主要特點是溫度試驗可以設(shè)定快速沖擊及快速變化,快可以在3秒鐘內(nèi)從高溫變到低溫,,5分鐘內(nèi)完成沖擊 效果,。破壞能力強,功率比普通高低溫試驗箱高出許多倍,。所以技術(shù)難度及成本也相對高許多,。
產(chǎn)物分類
Product Category詳細介紹
品牌 | 柳沁科技 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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產(chǎn)物新舊 | 全新 | 自動化程度 | 其他 |
尺寸 | 800*1000*1000 |
快速高低溫沖擊實驗箱,,因為溫度可以隨時變化做試驗,,所以也能稱它為溫沖溫變箱。此設(shè)備的主要特點是溫度試驗可以設(shè)定快速沖擊及快速變化,,快可以在3秒鐘內(nèi)從高溫變到低溫,,5分鐘內(nèi)完成沖擊&蒼產(chǎn)蟬辮;效果。破壞能力強,,功率比普通高低溫試驗箱高出許多倍,。所以技術(shù)難度及成本也相對高許多,。該試驗設(shè)備主要用于對電工,、電子產(chǎn)物,以及其元器件等各類產(chǎn)物按照標準要求或用戶自定要求,,在高溫與低溫瞬間變化條件下,,對原產(chǎn)物的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬試驗,試驗后,,通過檢測,,來判斷相關(guān)產(chǎn)物的性能是否仍然能夠符合預定要求,以便供各類產(chǎn)物的設(shè)計,、改進,、鑒定及出廠檢驗用。
標準型型號(另:可根據(jù)客戶要求定做):
LQ-TS--80 內(nèi)箱尺寸:500×400×400 外箱尺寸:1800×1800×1440,。
LQ-TS--150 內(nèi)箱尺寸:600×500×500 外箱尺寸:1800×1900×1540,。
LQ-TS--250 內(nèi)箱尺寸:700×600×600 外箱尺寸:1900×2000×1640,。
LQ-TS-S-480 內(nèi)箱尺寸:800×800×750 外箱尺寸:2020×2250×2150。
快速高低溫沖擊實驗箱|半導體高低溫沖擊試驗箱的測控系統(tǒng):
1.控制器: 7寸觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊,。
2.運行方式:程序方式,。
﹙1﹚控制對象 試驗區(qū)曝露溫度。
高溫恒溫區(qū)預熱溫度,。
低溫恒溫區(qū)預熱溫度,。
低溫恒溫區(qū)除霜溫度。
﹙2﹚指示精度 0.1℃,。
﹙3﹚輸 入 熱電偶 TDIN,。
﹙4﹚控制方式 微電腦PID+SSR控制。
3.設(shè)定方式:中文菜單,,觸摸屏方式輸入,。
4.程序容量:100組程式,每個程序3步,;每個程序可設(shè)1000次循環(huán),,循環(huán)設(shè)定9999腸測腸瀕別蟬。
5.設(shè)定范圍:預熱預冷箱區(qū),。
高溫室預熱溫度上限:+200℃,。
低溫室預冷溫度下限:-75℃。
試驗室﹙試樣區(qū)﹚,。
溫度沖擊上限:+150℃,。
溫度沖擊下限:-65℃。
6.顯示分辨率:溫度:0.1℃ 時間:0.1min,。
7.通訊功能:擱廠-232接口及鮑廠疊接口,,具有本地和遠程通訊功能。
8.控制方式:抗積分飽和筆濱頓,,模糊算法,;疊罷頒平衡調(diào)溫控制方式。
9.附屬功能:故障報警及原因,、處理提示功能,、超溫保護、故障記錄,、上下限溫度保護,、傳感器上下風選擇、斷電保護,、試驗暫停,、報警輸出、時間信號輸出,試驗結(jié)束輸出,、溫度到達輸出,、定時啟動及自動停止功能、自診斷功能,。
所滿足的標準有以下:
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式,;SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗 高低溫試驗導則;GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗;GB/T2423.22-1989溫度變化試驗;GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗;GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗;GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗;IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估;QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則 汽車行業(yè)標標準等等包括其它產(chǎn)物行業(yè)標準,。
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